သတင်း

  • SiC Single Crystal Growth တွင် အစေ့အရည်ကြည်ပြင်ဆင်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ် (အပိုင်း 2)

    SiC Single Crystal Growth တွင် အစေ့အရည်ကြည်ပြင်ဆင်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ် (အပိုင်း 2)

    2. စမ်းသပ်မှု လုပ်ငန်းစဉ် 2.1 ကော်ဖလင်ကို ဖယ်ထုတ်ခြင်း SiC wafers ပေါ်တွင် ကာဗွန်ဖလင်ပြားကို တိုက်ရိုက်ဖန်တီးခြင်း သို့မဟုတ် ဂရပ်ဖိုက်စက္ကူဖြင့် ချည်နှောင်ဖန်တီးခြင်းသည် ပြဿနာများစွာကို ဖြစ်စေသည်- 1. လေဟာနယ်အခြေအနေအောက်တွင် SiC wafers ပေါ်ရှိ ကော်ဖလင်သည် ပုံပန်းသဏ္ဌာန်ကဲ့သို့ အတိုင်းအတာတစ်ခုအထိ ဖွံ့ဖြိုးလာကြောင်း တွေ့ရှိရပါသည်။ လက်မှတ်ထိုးရန်...
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • SiC Single Crystal Growth တွင် အစေ့အရည်ကြည်များ ပြင်ဆင်ခြင်း လုပ်ငန်းစဉ်

    SiC Single Crystal Growth တွင် အစေ့အရည်ကြည်များ ပြင်ဆင်ခြင်း လုပ်ငန်းစဉ်

    Silicon carbide (SiC) ပစ္စည်းသည် ကျယ်ပြန့်သော bandgap၊ မြင့်မားသော အပူစီးကူးမှု၊ မြင့်မားသော အရေးပါသော ပျက်စီးမှုနယ်ပယ် ကြံ့ခိုင်မှုနှင့် ပြည့်ဝသော အီလက်ထရွန် ပျံ့နှုန်းမြင့်မားသော အားသာချက်များ ရှိပြီး ၎င်းသည် ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ ထုတ်လုပ်မှုနယ်ပယ်တွင် အလွန်အလားအလာ ကောင်းစေသည်။ SiC တစ်ခုတည်းသော crystals များကိုယေဘုယျအားဖြင့်ထုတ်လုပ်သည် ...
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • Wafer polishing လုပ်နည်းတွေက ဘာတွေလဲ။

    Wafer polishing လုပ်နည်းတွေက ဘာတွေလဲ။

    ချစ်ပ်တစ်ခုဖန်တီးရာတွင်ပါဝင်သည့် လုပ်ငန်းစဉ်အားလုံးတွင်၊ wafer ၏နောက်ဆုံးကံကြမ္မာသည် တစ်ဦးချင်းစီသေဆုံးသွားစေရန် သေးငယ်သောသေတ္တာများအတွင်း ထုပ်ပိုးထားသော ပင်နံပါတ်အနည်းငယ်သာပါရှိသော ထုပ်ပိုးမှုဖြစ်သည်။ ချစ်ပ်အား ၎င်း၏ အတိုင်းအတာ၊ ခံနိုင်ရည်၊ လက်ရှိနှင့် ဗို့အားတန်ဖိုးများအပေါ် အခြေခံ၍ အကဲဖြတ်မည်ဖြစ်သော်လည်း မည်သူမျှ ထည့်သွင်းစဉ်းစားမည်မဟုတ်ပါ။
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • SiC Epitaxial ကြီးထွားမှုလုပ်ငန်းစဉ်၏အခြေခံနိဒါန်း

    SiC Epitaxial ကြီးထွားမှုလုပ်ငန်းစဉ်၏အခြေခံနိဒါန်း

    Epitaxial အလွှာသည် Ep·itaxial ဖြစ်စဉ်ဖြင့် wafer ပေါ်တွင် ပေါက်ရောက်သော သီးခြား crystal film တစ်ခုဖြစ်ပြီး substrate wafer နှင့် epitaxial film ကို epitaxial wafer ဟုခေါ်သည်။ လျှပ်ကူးဆီလီကွန်ကာဗိုက်အလွှာပေါ်ရှိ ဆီလီကွန်ကာဗိုက် epitaxial အလွှာကို ကြီးထွားစေခြင်းဖြင့်၊ ဆီလီကွန်ကာဗိုက်ကို တစ်သားတည်းဖြစ်စေသော epitaxial အလွှာကို ကြီးထွားစေခြင်းဖြင့်၊
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • ဆီမီးကွန်ဒတ်တာထုပ်ပိုးခြင်းလုပ်ငန်းစဉ် အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှု၏ အဓိကအချက်များ

    ဆီမီးကွန်ဒတ်တာထုပ်ပိုးခြင်းလုပ်ငန်းစဉ် အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှု၏ အဓိကအချက်များ

    Semiconductor ထုပ်ပိုးမှုလုပ်ငန်းစဉ်တွင် အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုအတွက် အဓိကအချက်များ လက်ရှိတွင်၊ ဆီမီးကွန်ဒတ်တာထုပ်ပိုးခြင်းဆိုင်ရာ လုပ်ငန်းစဉ်နည်းပညာသည် သိသာထင်ရှားစွာ တိုးတက်ကောင်းမွန်လာပါသည်။ သို့သော်လည်း ခြုံငုံရှုထောင့်မှကြည့်လျှင် ဆီမီးကွန်ဒတ်တာထုပ်ပိုးခြင်းဆိုင်ရာ လုပ်ငန်းစဉ်များနှင့် နည်းလမ်းများသည် ပြီးပြည့်စုံမှုအရှိဆုံးသို့ မရောက်သေးပါ။
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • Semiconductor ထုပ်ပိုးမှုလုပ်ငန်းစဉ်တွင် စိန်ခေါ်မှုများ

    Semiconductor ထုပ်ပိုးမှုလုပ်ငန်းစဉ်တွင် စိန်ခေါ်မှုများ

    ဆီမီးကွန်ဒတ်တာထုပ်ပိုးခြင်းအတွက် လက်ရှိနည်းပညာများသည် တဖြည်းဖြည်းတိုးတက်နေသော်လည်း ဆီမီးကွန်ဒတ်တာထုပ်ပိုးမှုတွင် အလိုအလျောက်စက်ကိရိယာနှင့်နည်းပညာများကိုအသုံးပြုသည့်အတိုင်းအတာသည် မျှော်လင့်ထားသည့်ရလဒ်များအကောင်အထည်ဖော်မှုကို တိုက်ရိုက်ဆုံးဖြတ်သည်။ လက်ရှိ semiconductor ထုပ်ပိုးမှုလုပ်ငန်းစဉ်များသည် ဆိုးရွားနေဆဲ...
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • Semiconductor ထုပ်ပိုးမှုလုပ်ငန်းစဉ်ကို သုတေသနနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း။

    Semiconductor ထုပ်ပိုးမှုလုပ်ငန်းစဉ်ကို သုတေသနနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း။

    တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း လုပ်ငန်းစဉ်၏ ခြုံငုံသုံးသပ်ချက် semiconductor လုပ်ငန်းစဉ်တွင် အဓိကအားဖြင့် ချစ်ပ်များနှင့် အလွှာများနှင့် ဖရိမ်များကဲ့သို့သော ဒေသအမျိုးမျိုးအတွင်းရှိ ချစ်ပ်များနှင့် အခြားဒြပ်စင်များကို အပြည့်အဝချိတ်ဆက်ရန်အတွက် မိုက်ခရိုဖန်နှင့် ဖလင်နည်းပညာများကို အသုံးပြုခြင်းတွင် အဓိကပါဝင်ပါသည်။ ၎င်းသည် lead terminals များနှင့် encapsulation များကို ထုတ်ယူရာတွင် လွယ်ကူချောမွေ့စေပါသည်။...
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • ဆီမီးကွန်ဒတ်တာစက်မှုလုပ်ငန်းတွင် ခေတ်ရေစီးကြောင်းအသစ်များ- အကာအကွယ်အပေါ်ယံပိုင်းနည်းပညာကို အသုံးချမှု

    ဆီမီးကွန်ဒတ်တာစက်မှုလုပ်ငန်းတွင် ခေတ်ရေစီးကြောင်းအသစ်များ- အကာအကွယ်အပေါ်ယံပိုင်းနည်းပညာကို အသုံးချမှု

    တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးစက်လုပ်ငန်းသည် အထူးသဖြင့် ဆီလီကွန်ကာဗိုက် (SiC) ပါဝါအီလက်ထရွန်နစ်နယ်ပယ်တွင် မကြုံစဖူးသောတိုးတက်မှုကို မြင်တွေ့နေရသည်။ လျှပ်စစ်ကားများတွင် SiC စက်ပစ္စည်းများအတွက် အရှိန်အဟုန်မြင့်လာသော ၀ယ်လိုအားကို ဖြည့်ဆည်းရန်အတွက် အကြီးစား wafer Fabs အများအပြားကို တည်ဆောက်ခြင်း သို့မဟုတ် တိုးချဲ့ခြင်းနှင့်အတူ၊
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • SiC အလွှာများကို စီမံဆောင်ရွက်ရာတွင် အဓိကခြေလှမ်းများကား အဘယ်နည်း။

    SiC အလွှာများကို စီမံဆောင်ရွက်ရာတွင် အဓိကခြေလှမ်းများကား အဘယ်နည်း။

    SiC အလွှာအတွက် စီမံဆောင်ရွက်ပုံအဆင့်ဆင့်မှာ အောက်ပါအတိုင်းဖြစ်သည်- 1. Crystal Orientation- ပုံဆောင်ခဲများကို လှည့်ပတ်ရန်အတွက် X-ray diffraction ကိုအသုံးပြုခြင်း။ X-ray အလင်းတန်းသည် လိုချင်သောပုံဆောင်ခဲမျက်နှာကို ညွှန်ပြသောအခါ၊ Diffractioned beam ၏ထောင့်သည် crystal orientation ကိုဆုံးဖြတ်သည်...
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • တစ်ခုတည်းသော crystal silicon ကြီးထွားမှုအရည်အသွေးကို ဆုံးဖြတ်ပေးသည့် အရေးကြီးသောပစ္စည်း- အပူစက်ကွင်း

    တစ်ခုတည်းသော crystal silicon ကြီးထွားမှုအရည်အသွေးကို ဆုံးဖြတ်ပေးသည့် အရေးကြီးသောပစ္စည်း- အပူစက်ကွင်း

    တစ်ခုတည်းသော crystal silicon ၏ကြီးထွားမှုလုပ်ငန်းစဉ်ကိုအပူစက်ကွင်းတွင်လုံးဝလုပ်ဆောင်သည်။ ကောင်းသောအပူစက်သည် ပုံဆောင်ခဲအရည်အသွေးကို မြှင့်တင်ရန်နှင့် မြင့်မားသော crystallization ထိရောက်မှုရှိသည်။ အပူစက်ကွင်း၏ ဒီဇိုင်းသည် အပြောင်းအလဲများနှင့် အပြောင်းအလဲများကို အဆုံးအဖြတ်ပေးသည်...
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • epitaxial ကြီးထွားမှုဟူသည် အဘယ်နည်း။

    epitaxial ကြီးထွားမှုဟူသည် အဘယ်နည်း။

    Epitaxial Growth သည် ပုံဆောင်ခဲ၏ အပြင်ဘက်သို့ ပျံ့နှံ့သွားသကဲ့သို့ တူညီသော ပုံဆောင်ခဲအလွှာ (Substrate) ပေါ်တွင် ပုံဆောင်ခဲအလွှာတစ်ခု (Substrate) တစ်ခုပေါ်တွင် ကြီးထွားလာသော နည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သည်။ အသစ်စိုက်ပျိုးထားသော တစ်ခုတည်းသော သလင်းကျောက်အလွှာသည် c ၏စည်းကမ်းချက်များအရ အလွှာနှင့် ကွဲပြားနိုင်သည်။
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
  • အလွှာနှင့် epitaxy အကြားကွာခြားချက်ကဘာလဲ။

    အလွှာနှင့် epitaxy အကြားကွာခြားချက်ကဘာလဲ။

    wafer ပြင်ဆင်မှုလုပ်ငန်းစဉ်တွင်၊ တစ်ခုသည်အလွှာ၏ပြင်ဆင်မှုဖြစ်ပြီးနောက်တစ်ခုသည် epitaxial လုပ်ငန်းစဉ်ကိုအကောင်အထည်ဖော်ခြင်းဖြစ်သည်။ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းတစ်မျိုးတည်းဖြင့် ဂရုတစိုက်ဖန်တီးထားသော wafer ဆပ်ပြာသည် wafer ထုတ်လုပ်မှုတွင် တိုက်ရိုက်ထည့်သွင်းနိုင်သည်။
    ပိုပြီးဖတ်ပါ
<< < ယခင်3456789နောက်တစ်ခု >>> စာမျက်နှာ ၆/၁၂